examen
non-homogénéités dans les structures métal/semiconducteursnon-homogénéités dans les structures métal/semiconducteurs
POUR l'OBTENTION DU DIPLOME DE. DOCTORAT EN SCIENCES. Option :
PHYSIQUE DU SOLIDE. Par. Latreche abdelhakim. Thème. NON-
HOMOGÉNÉITÉS DANS LES. STRUCTURES MÉTAL/SEMICONDUCTEURS.
Soutenue publiquement le : 04/07/ 2012. Devant la commission d'examen.
Président : Z. Chaoui.



Du capteur de gaz à oxydes métalliques vers les nez électroniques ...Du capteur de gaz à oxydes métalliques vers les nez électroniques ...
15 mai 2012 ... Ch. PIJOLAT (Ecole des Mines de St-Etienne). R. PLANA ..... référent constant) et
la dérive de la sensibilité à un gaz donné. Cette dérive peut ...



Etude du comportement au vieillissement des interfaces thermiques ...Etude du comportement au vieillissement des interfaces thermiques ...
28 nov. 2013 ... Sujet de la thèse : Etude du comportement au vieillissement des interfaces
thermiques pour modules électroniques de puissance dédiés à des ...



Analyse du comportement petit signal du transistor MOS ...Analyse du comportement petit signal du transistor MOS ...
23 oct. 2008 ... par. Emmanuel Bouhana. Analyse du comportement petit signal du transistor
MOS : contribution à une nouvelle approche d'extraction et de modélisation pour
des applications RF. Soutenue le 29 octobre 2007 devant la commission d'
examen. Composition du jury : Mr Emmanuel Dubois. Président du jury.



BEEM - Tel archives ouvertes - HalBEEM - Tel archives ouvertes - Hal
23 oct. 2008 ... lished or not. The documents may come from teaching and research institutions
in France or abroad, or from public or private research centers. L'archive ...
Soutenue le 29 octobre 2007 devant la commission d'examen ..... 1.1.1.1 Metal-
Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor : le transistor à effet de.



Développement d'un analyseur de gaz transportable: couplage ...Développement d'un analyseur de gaz transportable: couplage ...
2 nov. 2009 ... lished or not. The documents may come from teaching and research institutions
in France or abroad, or from public or private research centers. ... Thèse
soutenue le 2 Juillet 2009 devant la commission d'Examen .... I.3.2 Transmission
à l'interface métal/semiconducteur: cône d'acceptance ...............p.21.



Couches minces amorphes d'ITO - Tel archives ouvertes - HalCouches minces amorphes d'ITO - Tel archives ouvertes - Hal
l'examen du cadre de cette mise en ?uvre, c'est-dire l'entreprise et son ..... 69
Wilensky L. (1967), Organisational Intelligence ? Knowledge and Policy in .....
selon trois axes : l'IES n'est plus un sujet tabou; des entreprises s'intéressent à
..... complexité », 17ème Entretiens Jacques Cartier, Montréal, 4-9 octobre 2004,
p.10 ...



Matière Condensée Recueil de TD - Partie I - Université Paris-SudMatière Condensée Recueil de TD - Partie I - Université Paris-Sud
18 févr. 2011 ... 4 D. Vaufrey, Réalisation d'Oled à émission par la surface : optimisation de
structures ITO/semiconducteurs organiques, Thèse de .... notamment à l'occasion
de l'examen des méthodes de caractérisation, nous affinerons cette étude. ..... de
la transition Non-Métal / Métal de Mott [18,19,20]. Cette transition ...



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